手持式四探針測試儀/四探針測試儀 型號：MHY-14349

手持式四探針測試儀測量范圍寬、度、穩定性好、結構緊湊、易操作的手持式；
體積僅為：185mm(長)*90mm(寬)*30mm()； 重量：350g；
使用鋰電池供電，次充電可連續使用100小時；
   運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
   儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數快、度、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。
   本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。
術  標 ：  

測量范圍  電阻率：0.01～1999.9Ω.cm；  
方塊電阻：0.1～19999Ω/□；

恒源  電量程分為100μA、1mA兩檔，兩檔電連續可調
數字電壓表  量程及表示形式：000.00～199.99mV； 分辨力：10μV；  
輸入阻抗：>1000MΩ； 度：±0.1%；  
顯示：以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；性、量程自動顯示；
四探針探頭基本標  間距：1±0.01mm；  針間緣電阻：≥1000MΩ； 機械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或速鋼Ф0.5mm； 探針壓力：5～16 牛頓(總力)；
四探針探頭應用參數  (見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87行)  1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機測量zui大相對誤差 (用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±5%
整機測量標準不確定度  ≤5%
外型尺寸  185mm(長)*90mm(寬)*30mm()
重量  350g
電源  鋰電池，次充電可連續使用100小時；
標準使用環境  溫度：23±2℃； 相對濕度：≤65%； 無頻干擾； 無強光直射